EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀在非接觸模式下自動(dòng)測(cè)量大型樣品的薄層電阻，最大可達(dá)300×300平方毫米（12×12英寸）。在手動(dòng)樣品定位時(shí)，該設(shè)備會(huì)自動(dòng)測(cè)量并顯示整個(gè)樣品區(qū)域的薄層電阻的準(zhǔn)確映射。測(cè)量設(shè)置允許輕松靈活地在低于 1 分鐘的快速測(cè)量時(shí)間或超過(guò) 10,000 個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高空間測(cè)量分辨率之間進(jìn)行選擇。

EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品介紹：

EddyCus® map 2530系列在非接觸模式下自動(dòng)測(cè)量大型樣品的薄層電阻，最大可達(dá)300×300平方毫米（12×12英寸）。在手動(dòng)樣品定位時(shí)，該設(shè)備會(huì)自動(dòng)測(cè)量并顯示整個(gè)樣品區(qū)域的薄層電阻的準(zhǔn)確映射。測(cè)量設(shè)置允許輕松靈活地在低于 1 分鐘的快速測(cè)量時(shí)間或超過(guò) 10,000 個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高空間測(cè)量分辨率之間進(jìn)行選擇。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 非接觸式

· 快速、高重復(fù)度測(cè)量

· 高分辨率成像

· 最大 300 x 300 mm（12"）的樣品成像測(cè)量

· 封裝的導(dǎo)電層的表征

· 軟件集成分析功能，例如電阻均一性分布、線掃描、單點(diǎn)分析

· 測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出功能

· 缺陷識(shí)別、分析

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

·  非接觸式成像

·  高速 (5 分鐘測(cè)量10,000個(gè)檢測(cè)點(diǎn))

·  重復(fù)性和精確性

·  高分辨率 (9 – 90,000個(gè)檢測(cè)點(diǎn))

·  封裝后的膜層成像

·  均勻性和缺陷成像

產(chǎn)品參數(shù)

軟件和設(shè)備操控:

· 人性化的軟件

· 實(shí)時(shí)測(cè)繪測(cè)量

· 易于使用的統(tǒng)計(jì)分析選項(xiàng)

· 預(yù)定義的測(cè)量和產(chǎn)品配方（尺寸、間距、閾值）

· CSV 和 pdf 導(dǎo)出

· 3 用戶級(jí)別

· 用于參數(shù)轉(zhuǎn)換的材料數(shù)據(jù)庫(kù)

· 邊緣效應(yīng)補(bǔ)償

· 數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和導(dǎo)入

· 數(shù)據(jù)集的導(dǎo)出（例如到 EddyEva、MS Excel、Origin）